芯片失效分析
作(zuò)者： 來(lái)源： 發布時間：2018/05/21 浏覽：1274
環境可靠性測試：
HTS，HAST，THB，PCT，TC，Pre-condition；
壽命考核測試：
HTOL，BLT，ELFR；
靜(jìng)電及栓鎖效應測試；
芯片失效分析
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環境可靠性測試：
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壽命考核測試：
HTOL，BLT，ELFR；
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