芯片性能測試
作(zuò)者： 來(lái)源： 發布時間：2018/05/22 浏覽：1572
産品規格與特性分析；
可測性（DFT）方案評估；
測試向量轉換和仿真；
測試程序開發和調試；
測試接口闆的設計制造；
Socket插座設計制造；
探針卡的設計制造；
量産測試程序的移植；
覆蓋衆多主流自(zì)動測試設備；
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