美國(guó)Teradyne FLEX系列測試設備，包括Micro-FLEX、FLEX、Ultra-FLEX等不同配置型号。該系列産品覆蓋中高端數字、模拟、數模混合的測試，具備複雜的混合信号、System-on-a-Chip（SOC）和System-in-Package（SiP）器件測試能力。該系列全部采用IG-XL的測試應用開發及測試管理系統，基于Windows操作(zuò)系統和Excel表格式編程，具有易學易用、高效靈活的特點，特别适合多品種、複雜器件的測試程序開發要求，是一款功能強大(dà)、性能優越、高效穩定的自(zì)動測試系統。

     ULTRAFLEX測試系統是美國(guó)泰瑞達公司推出的新一代集成電路測試系統。是基于器件内核的測試儀（Tster per Device Core）。擁有高擴展和高适應未來(lái)需求的通用插槽結構、對所有儀表精确同步控制的Sync-Link（同步鏈接）總線、高速實時處理後台DSP以及完全并行測試軟件IGXL，能保證更高精度和更好的重複性，更高效率的測試要求。它集成度高，功能強大(dà)，使用方便，占地面積小，性價比突出，并已經過大(dà)生(shēng)産的考驗。它是當前國(guó)内集成電路設計驗證，入廠(chǎng)篩選以及大(dà)生(shēng)産的首選。它能覆蓋目前半導體(tǐ)市場上大(dà)範圍的器件測試。這些器件包括有DFT集中測試、帶有數模和模數轉換的微控制器、DSP基帶、标準的模拟器件、功率器件、線性器件、芯片級系統、(射頻/中頻)、運放器件、音頻視頻器件、高清晰電視、無線網絡、數碼相機等。

主要特點：
            通用的儀表插槽提供了系統配置的靈活性。
            體(tǐ)積小功耗低，模塊化結構設計。
            Per-Pin結構的SoC測試系統
            獨立的高精度時鍾系統
            獨特的基于光(guāng)學基準時鍾和同步系統
            高密度多功能的DC/AC儀表
            後台零時間等待的DSP系統
            獨特的後台零時間等待的三級DSP處理系統
            重複性精度極高的時間跟蹤儀表
            高效率的并行并發測試
            獨特的PSET（參數集）功能
            完善的系統選件
            多級别的軟件開發環境
            開放式的系統結構和軟件接口
            可複用測試IP技術

            硬件PA協議(yì)測試

            三維SHMOO圖形化功能

高性能的數字系統
            Ultrapin1600數字子系統可以應對高速數字器件，SOC器件和SIP器件帶來(lái)的測試的新挑戰。
            Ultrapin1600數字子系統，數據速率高達2.2Gbps、通道高達2048，具有單端或差分輸入輸出功能。
            UltraSerial10G數字子系統,數據速率高達10.7Gbps, 具有單端或差分輸入輸出功能。

高性能的模拟、SOC混合信号測試
            ULTRAFLEX繼承和發展了TERADYNE A5系列、CATALYST系列，J750高性能模拟測試技術，推出一系列,将對測試領域産生(shēng)深遠(yuǎn)影(yǐng)響的重要新技術。把模拟、SOC混合信号測試提高到一個嶄新的高度。

測試選件
            DSSC(Digital Signal Source and Capture數字信号源和捕獲)
            MTO(Memory Test Option存儲器測試選件)
            SCAN (掃描測試選件)

軟件系統
            采用Windows2000/NT/XP測試系統平台
            基于 Windows Excel的測試開發組件IG-XL™
            基于模闆的編程環境
            面向混合信号的多種開發工具
            圖形化的環境提供了高效率的編程工具
            開放結構的軟件系統和接口
            可複用IP核技術
            豐富的調試工具
            IMAGE TO IG-XL Converter測試程序轉換工具
            DigitalVX軟件仿真工具
            數據分析和特性分析統計工具
            脫機開發軟件
            系統自(zì)診斷軟件