高溫動态老化測試系統（COBIS II）是由美國(guó)TRIO-TECH公司研發的大(dà)容量、高等級的集成電路動态老化測試系統。它的突出特點是大(dà)深度的測試向量存儲，可實現複雜功能集成電路内部“工作(zuò)狀态下的老化”。

高溫動态老化測試系統（COBIS II）具有測試吞吐率大(dà)、測試範圍廣、質量穩定可靠、操作(zuò)使用方便等特點，COBIS II 标準系統中最多可同時支持2560個獨立測試通道，并可在測試過程中通過通道監控和測試數據的比較功能。COBIS II 可針對各種類型的集成電路器件，以及各種封裝形式提供老化測試。因在生(shēng)産工藝中采用高等級的元器件和高規格部件，COBIS II擁有令人矚目的高穩定性。同時，采用高效的軟件操作(zuò)環境，具有測試向量的文體(tǐ)自(zì)動輸入工具等功能，極大(dà)的方便了用戶的日常工作(zuò)，減輕了技術勞動。目前COBIS II已被廣泛應用于國(guó)内外衆多知名的集成電路封裝測試工廠(chǎng)和研究所機構的老化測試工作(zuò)中。